很多人想知道的：测试LDPC的方法

3D Nand Flash的大量上市，LDPC几乎成了所有厂商营销的噱头，甚至到了好像不提LDPC就上不了台面一样。

从ECC的角度看，目前没有比LDPC更强大的纠错算法，这的确是事实。

与之相反，市场上总会有另一种不同的声音存在，那就是：虽然LDPC在HDD中已经使用很多年，但对于LDPC在Nand Flash中使用，并没有经过市场的验证，并且，从理论上讲LDPC也存在先天性缺陷：

1、因为要做迭代，LDPC的latency非常长。

2、要得到soft information，HDD可以一次就拿到soft information，而nand flash无法拿到精确的软信息，一旦拿错，则后果则是灾难性的，LDPC的decoder会被软信息所欺骗，因为，LDPC需要利用软信息来计算概率，而错误的信息在计算的过程中会被不断的放大，

3、Nand Flash有个非常重要的特点是：写错误，例如，一些cell坏掉，而不是读错误，一旦写错，无论如何去拿软信息，都是错误的，错误的信息输入LDPC，则会100%带来错误，这个错误是无法改变，会导致LDPC decoding的Error Floor非常的高，从code的本身看，目前还无法设计出。

4、LDPC是不可控的，是不可计算的。

基于兵哥一贯的保守与眼拙之故，本人更加看好BCH+LDPC的混合模式，但，兵哥并不反对任何一家使用单纯的LDPC。

回归文章本意：LDPC的设计者，如何测试自己的LDPC，这也是兵哥最近遇到最多的咨询问题，答案如下：

1、先准备LDPC code word；

2、在NFA100-E下，settings-pattern- settings-block - program-buffer pattern，将LDPC code word作为pattern写入nand flash；

3、获取LLR，在此之前，需要知道Nand Flash厂商的一些“读”的特殊命令，如：micron的 READ OFFSET，thoshiba的 SHIFT READ等命令，这些命令可以改变发送给nand flash读命令的阈值电压，不同的阈值电压可能会读取到不同的结果，可以据此信息生成自己的LLR。

对于同一个bit，可以使用Vth0-2读三次，得到三个输出结果，例如：1，1，0，通过这3bits来定义自己的LLR算法，从而得到自己的LLR信息。

4、将生成的LLR在PC端输入离线LDPC解码引擎即可做LDPC的分析。