GPS研发测试

很多工程师在研发调试GPS性能都有盲目性，PND的CN值不高，是天线频点不准？还是LNA增益不够？是EMI干扰？还是自身结构限制了GPS性能？可以看出，前两点属于天线问题，后两点属于PND自身设计问题。如何判定是高效调试GPS性能的前提。以下是本人调试GPS的基本流程，可供大家参考。

在PND按照原设计做好一切屏蔽手段，首先用矢量分析仪扫描PCBA各位置在1575.42MHZ附近辐射出的干扰，power off扫描一次建立基准指标，power on再扫描一次。该步骤工程师可具体了解机壳内EMI辐射源，为以后对策做好准备。

接下来对PCB的GPS的闭环性能测试。如采用的是有源天线，工程师手头必须准备一块LNA标准测试板；如采用无源天线，则可将信号发生器直接接入GPS接收端，可从PND端直接读出CN值。通过与标准机比对，该步骤工程师可调查阻抗匹配及module工作情况。

然后可对天线样品进行测试，一般天线制造商会针对不同外壳结构专调陶瓷天线频点，根据不同方案设计LNA增益。我们可通过标准机测试天线，并对机内EMI对天线的影响程度作出判断。EUT内的待测天线，通过长cable线连接至标准机，在单通道或者opensky，测试EUT的power on/off前后CN值变化，可得知EMI对CN值的具体影响。一般来说，采用Sirf  module，在opensky下power off时，CN值可达到48；power on后，由于EMI影响，CN会下降至46，该天线才能算是合格的。如果power off时，CN值只能达到45，那说明该天线的增益或者频点调试有问题。

最后可在单通道下指导，在机器内增加泡棉隔离或者铜箔封闭等方式，提高CN值。

以上是一般GPS调试流程。当然，有时错误的结构设计也会降低天线的性能，比如陶瓷片上方或者附近有金属；比如天线上方存在不连续介质。