JTAG.NET板级测试系统

JTAG.NET板级测试系统

 

缩略语：

JTAG                    Joint Test Action Group

BS                      Boundary Scan                             边界扫描

BSDL                   Boundary Scan Description Language           边界扫描描述语言

BST                      Boundary Scan Test                                            边界扫描测试

OBP                     On_Board Programming                      在板编程

ICP                      In_Circuit Programming                      在线编程

ISP                             In-System Programming                      系统编程

 

 

 

引言：

随着电路技术进入超大规模集成（VLSI）时代，VLSI电路的高度复杂性以及多层印制板、表面贴装（SMT）、圆片规模集成（WSI）和多芯片模块（MCM）技术在电路系统中的应用，都使得电路节点的物理可访问性正逐步削弱以至于消失，电路和系统的可测试性急剧下降，测试开销在电路和系统总开销中所占的比例不断上升，常规的测试方法正面临着日趋严重的困难。测试算法的研究和测试实践证明了一个基本的事实：要对一个不具有可测试性的电路进行测试实徒劳的，只要提供电路的可测试性，才能使电路的测试问题得到简化并最终解决。1985年，由IBM、AT&T、Texas Instruments、Philips Electronics NV、Siemens、Alcatel和Ericsson等公司成立的JETAG（Joint European Test Action Group）提出了边界扫描技术，它通过存在于元器件输入输出管脚与内核电路之间的BSC（边界扫描单元）对器件及外围电路进行测试，从而提高器件的可控性和可观察性。1986年由于其它地区的一些公司的加入，JETAG改名为JTAG。1988年JTAG提出了标准的边界扫描体系结构，名称叫Boundary-Scan Architecture Proposal，Version 2.0，最后目标是应用到芯片、印制板与完整系统上的一套完善的标准化技术。1990年IEEE正是承认了JTAG标准，经过补充和修改后，命名为IEEE1149.1-90。同年，又提出了BSDL（Boundary Scan Description Language，边界扫描描述语言），后来成为IEEE1149.1-93标准的一部分。IEEE1149.1标准大大推动了边界扫描技术的发展和广泛应用。

www.cxjtag.com