BIST

BIST测试技术，内建自测（Built-inSelfTest）
Built-inSelfTest简称BIST是在设计时在电路中植入相关功能电路用于提供自我测试功能的技术，以此降低器件测试对自动测试设备（ATE）的依赖程度。BIST是一种DFT（DesignforTestability）技术，它可以应用于几乎所有电路，因此在半导体工业被广泛应用。举例来说，在DRAM中普遍使用的BIST技术包括在电路中植入测试图形发生电路，时序电路，模式选择电路和调试测试电路。BIST技术的快速发展很大的原因是由于居高不下的ATE成本和电路的高复杂度。现在，高度集成的电路被广泛应用，测试这些电路需要高速的混合信号测试设备。BIST技术可以通过实现自我测试从而减少对ATE的需求。

BIST-简介

       

BIST技术也可以解决很多电路无法直接测试的问题，因为他们没有直接的外部引脚，比如嵌闪。可以预见，在不久的将来即使最先进的ATE也无法完全测试最快的电路，这也是采用BIST的原因之一。
采用BIST技术的优点在于：
1，降低测试成本
2，提高错误覆盖率
3，缩短测试所需时间
4，方便客户服务
5，独立测试的能力
缺点
1，额外的电路占用宝贵面积
2，额外的引脚
3，可能存在的测试盲点
采用BIST所存在的问题：
1，哪些测试需要BIST完成？
2，最多允许多少额外的面积？
3，需要什么样的外部激励？
4，测试所需时间和效率？
5，BIST是固定的还是可编程的？
6，采用BIST将对现有工序产生什么影响？
BIST技术大致可以分两类：LogicBIST(LBIST)和MemoryBIST(MBIST)
LBIST通常用于测试随机逻辑电路，一般采用一个伪随机测试图形生成器来产生输入测试图形，应用于器件内部机制；而采用多输入寄存器（MISR）作为获得输出信号产生器。
MBIST只用于存储器测试，典型的MBIST包含测试电路用于加载，读取和比较测试图形。目前存在几种业界通用的MBIST算法，比如“March”算法。Checkerboard算法等等。
另一种比较少见的BIST称为ArrayBIST，它是MBIST的一种，专门用于嵌入式存储器的自我测试。AnalogBIST,则用于模拟电路的自我测试。
BIST技术正成为高价ATE的替代方案，但是BIST技术目前还无法完全取代ATE，他们将在未来很长一段时间内共存。