关于DEVICE_ATTR使用方法的总结

在网上看了好多关于DEVICE_ATTR得介绍未能理清，还是自己实际动手操作下才有效果，最近在设计I2C测试过程中用到了这个，因此进行了实验。

实验环境：

操作系统ubuntu12.04

内容：i2c_core  i2c_test

1.文件i2c_core.c

 定义*i2c_dev_attrs 指针 包含 dev_attr_test.attr,

static struct attribute *i2c_dev_attrs[] = {
    &dev_attr_name.attr,
    &dev_attr_modalias.attr, 
    &dev_attr_debug.attr,
#ifdef CONFIG_I2C_STRESS_TEST
    &dev_attr_test.attr,
#endif 
    NULL
};

同时定义i2c_dev_attr_group包含 i2c_dev_attrs

static struct attribute_group i2c_dev_attr_group = {
    .attrs        = i2c_dev_attrs,
};

继续定义i2c_dev_attr_groups包含 i2c_dev_attr_group

static const struct attribute_group *i2c_dev_attr_groups[] = {
    &i2c_dev_attr_group,
    NULL
};

最后 定义 device_type i2c_client_type 包含

static struct device_type i2c_client_type = {
    .groups        = i2c_dev_attr_groups,
    .uevent        = i2c_device_uevent,
    .release    = i2c_client_dev_release,
};

挂载client

struct i2c_client *
i2c_new_device(struct i2c_adapter *adap, struct i2c_board_info const *info)

{

 ....

    client->dev.type = &i2c_client_type;

// 添加 i2c_client_type

.....

}

/* 定义响应函数show_test   store_tes*/

static ssize_t show_test(struct device *dev, struct device_attribute *attr, char *buf)
{
   
    printk("lion_li  -->show_test \r\n");      

   //     调用响应得函数
    return i2c_stresstest_print_status(buf);
}
static ssize_t store_test(struct device *dev, struct device_attribute *attr, const char *buf, size_t count)
{
       printk("lion_li  -->store_test  \r\n");         

    //     调用响应得函数 

        return i2c_stresstest_command_parser(buf, count);
}

//////测出进行注册  其中 test 未设置显示得内容
static DEVICE_ATTR(test, 0755 , show_test, store_test);

至此 test 为标志得cat参数被添加到了sys/device/i2c-n下

2、进入终端 ，输入 adb shell 进入adb模式

root@android:/sys/devices/i2c-0 # 

切换到路径如下，输入 ls可以查看到 挂载得 name modalias debug   testd等内容

此时 可以 输入 cat test

这是调用得将是 show_test 函数

测试如果输入 echo xxx >test 此时调用得是 store_test(）函数 参数为xxx 字符串 同时有count 系统自己计算

3、完成