介质损耗测试仪的变频技术测量方法…

来源:互联网 发布:lol英雄数据库 编辑:程序博客网 时间:2024/04/28 18:57

仪器相关的变频测量技术有哪些?是如何接线,如何操作,及工作原理有哪些?主要是用于做什么的等等,下面都会一一解答你的疑问,如果你需要更多更详细的参考资料,请参阅:介质损耗测试仪系列

介绍:

变频抗干扰介质损耗测试仪是绝缘试验中很基本的方法,可以有效地发现电器设备绝缘的整体受潮劣化变质,以及局部缺陷等.在电工制造、电气设备安装、交接和预防性试验中都广泛应用。变压器、互感器、电抗器、电容器以及套管、避雷器等介损的测量是衡量其绝缘性能的最基本方法.变频抗干扰介质损耗测试仪突破了传统的电桥测量方式,采用变频电源技术,利用单片机、和现代化电子技术进行自动频率变换、模/数转换和数据运算;达到抗干扰能力强、测试速度快、精度高、全自动数字化;变频抗干扰介质损耗测试仪电源采用大功率开关电源,输出45Hz和55Hz纯正弦波,自动加压,可提供最高10千伏的电压;自动滤除50Hz干扰,适用于变电站等电磁干扰大的现场测试.变频抗干扰介质损耗测试仪适用于电力行业中变压器、互感器、套管、电容器、避雷器等设备的介损测量

测量方式及原理

一、按被测试品是否接地分两种测量方式,即正接线测量方式和反接线测量方式.两种测量方式的原理如图一所示:


变频抗干扰介质损耗测试仪详细说明

(a)正接线测量图一 (b)反接线测量

在高压电源的10kV侧,高压分两路,一路给机内标准电容CN,此电容介损非常小,可以认为介损为零,即为纯容性电流,此电流ICN可做为容性电流基准.在Cx试品一侧,试品电流Icx通过采样电阻R采入机内,此Icx可分解成水平分量和垂直分量见图二所示,通过计算水平分量与垂直分量的比值即可得到tgδ值.
在图一(a)中Cx为非接地试品,试品电流Icx从试品末端进入采样电阻R,得到全电流值,在图一(b)中Cx为接地试品,机内Cx端直接接地,电流Icx从试品高压端到机内采样电阻取得全电流值.


变频抗干扰介质损耗测试仪详细说明

步骤/方法

  1. 测量前准备:
    1)用接地线一端接仪器的接地柱,另一端接可靠的大地,保证仪器外壳处在地电位上。
    2)正接线时:将高压电缆插头插入后门HV插座中,将另一端的红色大钳子夹到被测试品的高端引线上,黑色小钳子悬空或夹在红色大钳子上。将CX低压电缆插入CX插座中,另一端的红色夹子夹试品的低端,黑色夹子悬空或接屏蔽装置。
    3)反接线时:将高压电缆插头插入后门HV插座中,将另一端的红色大钳子夹到被测试品的高端引线上,红色小钳子悬空或接屏蔽装置。Cx插座不用。

  2. 打开电源开关,仪器进行自检,若自检良好,液晶屏显示中文主菜单如
    图十六所示。

  3. 菜单选择:
    1)按 键可移动光标至各菜单项,并循环指示。被选中项反白字体显示。选择键的流程见图十七所示。
    2)在光标当前所示项目,按▼ ▲键键可进行该项菜单的变更,并循环指示,流程见图十八所示。
    3)将菜单变更至与测试要求相对应后即可按选择键进行下个项目的选择

    图十九 图二十

    变频抗干扰介质损耗测试仪详细说明
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  4. 4.测试:打开开关,当光标在测试项目上时,按确认键大约5秒钟开始测试。测试过程中显示的画面如图十九(正接线,变频)所示,当下面的进程到100%时候测试完毕,然后显示测量结果见图二十所示,此时光标指示打印机图标,按确认键打印报告.测量结果的意义如下:
    tgδ: 试品的损耗因数tgδ值
    CX: 测量的电容值
    V:施加电压值
    I:试品流过的电流
    F1,F2 : 试验频率
        打印结束后,关闭电源开关,测试完毕。

注意事项

  • 1.遵守本单位的高压试验安全工作规程。
    2.高压试验必须由2名以上工作人员参加,1人操作,1人监护。
    3.接线完毕后,由1人负责检查。
    4.测试结束后,关闭电源开关。严禁带电拆装高压电缆
    5.仪器出现不正常现象,关闭电源开关,等待一分钟左右再检查。
    6.反接线校验标准介损器时,将标准介损器放在绝缘物体上,离地60-100cm,将高压电缆接头悬空吊起远离地面,避免高压线夹对地的分布参数影响数据。
    7.高压电缆损坏时,可以用低压CX线悬空使用,本产品高低压电缆接线方式相同,可以互换使用。
    8.测量完毕必须关闭电源开关,等待一分钟左右再拆线

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