B001-Atmega16-带电复位后不清0的.noinit变量

《AVR单片机原理与GCC编程实践》P117讲到AVR代码段时，提到了.bss段中包含了一个很有意思的.noinit段。

.noinit段描述：

.bss段的变量在芯片启动的.init4阶段会被清0，但是定义在.bss的.noinit段中的变量在.init4阶段不会被清0。
单片机不掉电复位后，.noinit段的这些变量的值依然存在，可以继续使用。

.noinit段的定义方法：int bar __attribute__ ((section (".noinit")));

不能指定初值，因为这些变量是在.bss段。

.noinit段变量的复位测试：

也就是说、如果我在.noinit段定义一个变量，按下开发板的复位键(单片机不掉电复位)，这个变量的值不会被清0。

下面是测试代码，我在.noinit段定义了变量bar，初值未知。

8bit的bar正好可以用连接在PORTB的8个LED灯来显示它的数值。

每次进入程序后、bar++，所以每按一次复位键，bar对应的8个LED灯的二进制数值就加1(二进制计数器)。

测试代码：

#include <avr/io.h>uint8_t bar __attribute__ ((section(".noinit")));int main(void){    bar++;    DDRB  = 0xFF;    PORTB = 0xFF;    PORTB = bar;    while(1)  {  }    return 0;}

测试结果：

我的8个LED是低推的，所以点亮的LED对应的引脚逻辑值是0，熄灭的LED对应的引脚逻辑值是1。

于是得到下面的结果：

程序下载到开发板后，这一次bar的初值是00000001(这次比较巧)，每按一次复位键，bar的值都加1了。

重新下载程序后，bar的初值也会自己加1，也相当于单片机不掉电复位。

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使用.noinit特性测试BOD掉电：

2016.05.30

今天发现.noinit的特性还可以测试BOD掉电。

依然是使用上面的代码中的.noinit，加上PA0输出脉冲，同时查看PORTB的二进制计数器来得知复位次数。

代码如下：

int main(void){    // PA0为输出口    DDRA  = (IO_OUTPUT << DDA0);    // 记录复位次数    _noinit_using();    while(1)    {        // PA0拉高        PORTA = (1 << PA0);        // 维持0.5秒        delay_ms(500);        // PA0拉低        PORTA &= ~(1 << PA0);        // 维持0.5秒        delay_ms(500);    }    return 0;}

其中的_noinit_using()如下：

volatile uint8_t v_noinit __attribute__ ((section(".noinit")));// ==========================================================================================================// 通过观察PORTB上的8位LED的状态得知复位次数// ==========================================================================================================void _noinit_using(void){    v_noinit++;    // 8位LED,低推    DDRB  = 0xFF;    PORTB = 0xFF;    PORTB = v_noinit;}

测试结果：

1、当前芯片BOD监测的电压是4.0V
2、使用.noinit可以测试复位次数(二进制计数器)
3、每次将电压源电压低到<3.7V,就会引发复位，而PORTB的二进制计数器就会加1
4、而且低到1V以下,复位后依然可以记住上一次的.noinit变量的值,大概是没有完全掉电的缘故

5、正常工作时可以看到PA0的脉冲，复位时中断。

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使用.noinit特性测试看门狗WDT：

在另一篇测试WDT效果的文章中，还是用这个.noinit+二进制计数器的方法测试了WDT的复位：

http://blog.csdn.net/manon_des_source/article/details/51540217