在ATE测试时的pattern x mode是如何来使pattern体积变小的

原因：因为ATE上的每个pin的vector memory都是固定的，当测试的使用使用的pattern太大的话，pattern是不能成功加载到ATE中去的，当然可以不同pin的vector memory可以互相share，当时这个另外一个topic了。

为什么x mode可以work：因为每一个wavetable在系统中其实就是一张表，这个表的索引范围是0~255（问题：如果wavetable太大的话，怎么办？），如果你的wavetable中只定义了两个wave，剩下的253的位置就浪费了，所以这就引入了x mode的概念

什么是x mode
一般来说，一个period，我们一般放入一个测试cycle，
但是x mode就是在一个period中，放入更多的测试cycle，放入几个(x)就叫做 x mode（ 1/2 mode相反，就是讲一个测试cycle放入多个period中去，这里不讨论）

使用x mode的时候需要改变的是timing， wavetable和pattern，下面以wavetable来示例。但是好的ATE会根据你的x mode情况，自动计算这些，有的可能需要手动去修改。

以下只以wavetable来说明，假如有如下的wavetable
定义了两个波形：

0: drive1:0 drive2:01: drive1:1 drive2:0

对应的pattern如下：

10100011

如果使用x2 mode的话，wavetable会变成如下：

0: drive1:0 drive2:0 drive3:0 drive4:0 #equals 001: drive1:1 drive2:0 drive3:1 drive4:0 #equals 112: drive1:0 drive2:0 drive3:1 drive4:0 #equals 013: drive1:0 drive2:0 drive3:1 drive4:0 #equals 10

对应的pattern会变成如下形式：

3 #equals 103 #equals 100 #equals 001 #equals 11

原先的pattern行数是8，使用x2 mode只用，pattern的行数变成了4，从而达到节省vector memory的目的。

当然在使用x mode的使用还是有一些讲究的地方，
比方说如果
原来的pattern的行数/x ~= integer
的时候怎么办？
如果原来wavetable的波形太多怎么办？
在实际的工作中都有意识到这些。