STM32CubeMX的SDIO模式下对SD卡读写测试（附源码）

1.问题描述：使用STM32CubeMX，配置SDIO的4bit模式，对SD卡进行读写测试。

2.准备工作：

软件版本：STM32CubeMX–4.22.0 ；KEIL5 硬件平台：原子战舰V3

（1）软件设置：

I. SDIO选择，这里选择4bits模式，实际选1bits也可以。

II. 时钟树配置

III. SDIO模式时钟分频设置，其他默认。

其他详细配置请自行打开源码压缩包里的MP3_Test.ioc查看。

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（2）Keil工程测试代码：
测试代码参考硬石的HAL库例程，其资料下载地址在最下方。

I.首先是测试要用到的宏定义及变量的声明。

II.接下来是对主函数代码的添加与修改。

III.主要代码段修改与添加。
擦除函数部分：

擦除函数部分主要是对硬石的读块函数参数进行修改，另外在增添了一句10ms的延时。如果没有这句，擦除操作可以成功，但是读块函数会错误，最后显示擦除测试不成功。

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读写函数部分：

读写函数部分除了对HAL读写函数参数进行更改，也屏蔽了HAL_Delay()函数，使用自身的延时函数。且实际测试时，这里的延时在480us，能够保证读写操作的正常进行。如果延时时间往下再降低，则读写测试报错。

3.实际测试：

首先是2G卡的测试。

8G卡的测试。

实际测试时，如果更换SD卡且重新开机后，有可能会测试失败，此时重新复位几次单片机即可。

4.参考资料及测试源码:

首先贴出硬石YS-F1Pro开发板HAL库例程参考源码地址下载：
链接 : https://pan.baidu.com/s/1nvtZhVV 密码 : 416v
然后是测试代码：
链接：http://pan.baidu.com/s/1skGRLc5 密码：081r