芯片测试

问题描述
　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。
输入格式
　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。
输出格式
　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3

#include <iostream>using namespace std;int main(){    int n,i,j,num[21][21],s;    cin>>n;    for(i=0;i<n;i++)    {        for(j=0;j<n;j++)        {            cin>>num[i][j];        }    }    for(i=0;i<n;i++)    {        s=0;        for(j=0;j<n;j++)        {            s+=num[j][i];//假设该芯片为好的，统计其他芯片对该芯片的测试结果        }        if(s>n/2)//若有一半以上芯片对该芯片测试结果都为1，则该芯片为好的            cout<<i+1<<" ";    }    cout<<endl;    return 0;}

解题关键
好芯片比坏芯片多，假设一个芯片为好芯片，则其他芯片中，一定有一半或以上的芯片对该芯片测试结果为1