芯片测试

问题描述

　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。

　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。

　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入格式

　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。

　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

输出格式

　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例输入

3

1 0 1

0 1 0

1 0 1

样例输出

1 3

解题思路

因为题意所给出“好芯片比坏芯片多”所以可知，用每个芯片（包括它自己）测试任意好芯片所得结果中1的数量必定大于0的数量，反之用每个芯片（包括它自己）测试任意坏芯片所得结果中0的数量必定大于1的数量。

参考代码：

#include<stdio.h>#include<stdlib.h>int main(){int n,i,j,k;int**a;scanf("%d",&n);a=(int**)malloc(sizeof(int*)*n);for(i=0;i<n;i++)a[i]=(int*)malloc(sizeof(int)*n);for(i=0;i<n;i++)for(j=0;j<n;j++)scanf("%d",a[i]+j);for(i=0;i<n;i++){k=0;for(j=0;j<n;j++)k+=a[j][i];if(k>n/2)printf("%d ",i+1);}putchar('\n'); return 0;}