芯片测试

问题描述：有 n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。 用好芯片测试其他芯片时， 能正确给出被测试芯片是好还是坏。
而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无
关） 。
给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。
输入格式：输入数据第一行为一个整数 n，表示芯片个数。
第二行到第 n+1 行为 n*n 的一张表，每行 n 个数据。表中的每个数据为 0 或 1，在这 n 行中的第
i 行第 j 列（1≤i, j≤n）的数据表示用第 i 块芯片测试第 j 块芯片时得到的测试结果，1 表示好，0 表
示坏，i=j 时一律为 1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试） 。
输出格式：按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出

1 3

//***************************芯片测试-P20 #include <iostream>#include <string.h>#include <queue>#include <stack>using namespace std;int main(){int n;cin >> n;int *x[20];for(int i=0;i<n;i++){x[i]=new int[n];for(int j=0;j<n;j++)cin >> x[i][j];}int sum;for(int i=0;i<n;i++){sum=0;for(int j=0;j<n;j++)if(j!=i)  sum+=x[j][i];if(sum>=n/2) cout << i+1 << " ";}return 0;}