蓝桥杯 基础训练 芯片测试

来源:互联网 发布:太阳黑子与气候数据 编辑:程序博客网 时间:2024/06/05 19:12

问题描述
  有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
  每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
  给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
输入格式
  输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
  第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
输出格式
  按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出

1 3




思路分析:题目中提示好芯片的数量大于坏芯片的数量,意味着当其他芯片对一个芯片进行测试时,如果该芯片为好芯片,则测试结果为 好的数量>坏的数量,反之如果该芯片为坏芯片,则测试结果为 好的数量<坏的数量。这时只需对表中i(行)进行列遍历,根据结果进行判断。



package Basic;import java.util.Scanner;public class Basic23 {public static void main(String[] args){Scanner s = new Scanner(System.in);int n = s.nextInt();int[][] result = new int[n][n];//芯片测试结果resultfor(int i=0;i<n;i++)for(int j=0;j<n;j++)result[i][j] = s.nextInt();s.close();for(int i=0;i<n;i++){int count = 0;//好的芯片测试数量for(int j=0;j<n;j++){if(result[i][j] == 1){count++;}if(count>n/2){System.out.print((i+1)+" ");}}}}}