基础训练 芯片测试

来源:互联网 发布:新淘宝店如何提高销量 编辑:程序博客网 时间:2024/06/05 20:11
问题描述
  有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
  每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
  给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
输入格式
  输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
  第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
输出格式
  按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出

解析:本题的关键在于找出统计规律(即统计每个芯片的合格率),如果按行检测,满足条件。则继续检测该列,如果两者都满足条件,那么恭喜你已经找到合格品的位置了,然后,输出该芯片的编号。
满足的条件是: 合格品的个数 大于 总数的一半 即可。

#include <stdio.h>#define N 20int main(void){int i,j,t;int n;int a[N][N];scanf("%d",&n);for(i=0;i<n;i++){for(j=0;j<n;j++){scanf("%d",&a[i][j]);}}int sum;for(i=0;i<n;i++){sum=0;for(j=0;j<n;j++){sum+=a[i][j];}if(sum>n/2){<span style="white-space:pre"></span>//如果<span style="color: rgb(51, 51, 51); font-family: 微软雅黑, 黑体, 宋体; font-size: 16px;">每列1的个数 大于 总个数的1/2</span>sum=0;for(t=0;t<n;t++){ //同上,进行按列的判断  sum+=a[t][i];}if(sum>n/2){printf("%d ",i+1);}}}return 0;}

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