蓝桥杯——芯片测试

问题描述

　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入格式

　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

输出格式

　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

输入 3

1 0 1

0 1 0

1 0 1

输出

1 3

思路：

测试芯片的好坏，已知好芯片的数量比坏芯片多，从列开始遍历，如果每一列上好的次数多于总芯片数的一半，说明这是一个好芯片，否则是坏芯片。ps：用x来循环记录每一列好的次数，进行下一列循环时，需要清零。

c++源代码：

#include<iostream>
using namespace std;


int main(void)
{
int a[20][20];//有n（2≤n≤20）块芯片
int i,j,n;
int x;
cin>>n;
for(i=0;i<n;i++)
{
for(j=0;j<n;j++)
{
cin>>a[i][j];
}
}
for(i=0;i<n;i++)
{
x=0;//清零
for(j=0;j<n;j++)
{
if(a[j][i]==1) x+=a[j][i];//从列开始，记录好的次数
}
if(x>n/2) //与总芯片数的一半比
cout<<i+1<<'\t';
}
return 0;
}