芯片功能测试pattern调试
来源:互联网 发布:mysql批量更新语句 编辑:程序博客网 时间:2024/04/30 16:13
连续2周去了上海advantest调试量产芯片的功能测试pattern。
交通:打的在田林路,古美路口下。
这次我用perl直接生成asc格式的pattern,调试起来非常方便。有需要修改的地方直接可以修改。
对调试的时间不宜估计得太乐观。
11/21,修改perl,使之符合asc格式
11/22,将i2c配置和ts比较2个文件合并
11/23,使用match方法比较ts头
11/24,使用比较i2c高位的方法,确定最大值比较。没有办法选出0值
11/28,调试ate读结果,可以在pattern结束后读出i2c寄存器的值
11/29,调试锁定问题,未果。
11/30,去处match方法,使用比较后处理,使得4个site可以同时工作。
12/1,选择了一个时间窗,对所以好片与坏片都测试一遍,得到统计数据。
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