偶尔一计-芯片测试

来源：互联网发布：单片机modbus通讯代码编辑：程序博客网时间：2024/05/16 05:34

偶尔一道算法题，脑洞大开-------------------------------声明：题目乃copy，解非download----------------------------小弟不才，望各位有玉砸之

问题描述

　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入格式

　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

输出格式

　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例输入

样例输出

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From lanqiao.org

package org.lanqiao.exercise.base_2;import java.util.ArrayList;import java.util.Scanner;public class Basic_23 {public static ArrayList<Integer> foo(int[][] arry,int n) {ArrayList<Integer> val = new ArrayList<Integer>();for(int i=0; i<n; i++) {int sum=0;for(int j=0; j<n; j++) {if(i!=j) {sum+=arry[j][i];}}if(!(n-1-sum>(n-1)/2.0)) {val.add(i);}}return val;}public static void main(String[] args) {Scanner cin = new Scanner(System.in);int n = cin.nextInt();int[][] arry = new int[n][n];for(int i=0; i<n; i++) {for(int j=0; j<n; j++)arry[i][j] = cin.nextInt();}cin.close();for(int i:foo(arry, n))System.out.print(i+1+" ");}}

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