蓝桥Basic23芯片测试
来源:互联网 发布:人工智能自然语言理解 编辑:程序博客网 时间:2024/05/02 01:52
问题描述
有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
输入格式
输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
输出格式
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3
#include <iostream>using namespace std;const int MAX=22;bool xin[MAX][MAX];int main(){int n;cin>>n;short sum=0;for(short i=0;i<n;i++)for(short j=0;j<n;j++)cin>>xin[i][j];for(short i=0;i<n;i++){sum=0;for(short j=0;j<n;j++)sum+=xin[j][i];if(sum>n/2)cout<<i+1<<" ";}return 0;}
0 0
- 蓝桥Basic23芯片测试
- 蓝桥--芯片测试
- 芯片测试(蓝桥基础练习)详解
- 蓝桥试题测试---序列求和
- 蓝桥试题测试---Fibonacci数列
- 芯片测试
- 芯片测试...
- 芯片测试
- 芯片测试
- 芯片测试
- 芯片测试
- 芯片测试
- 芯片测试
- 芯片测试
- 芯片测试
- 芯片测试
- 芯片测试
- 芯片测试
- win系统下安装git
- Android四大组件
- CoreAnimation--CGPath
- Eclipse快捷键 10个最有用的快捷键
- java基础---静态变量,成员变量,局部变量及类的初始化顺序
- 蓝桥Basic23芯片测试
- mysql导入sql文件
- telnet 收发邮件及邮件内容的简单解读
- 【微信公众平台开发】运用新浪云擎SAE进行开发-初步工作
- CSS属性选择器
- linux下awk命令用法
- C#拾遗之方法(二)
- POJ1094 Sorting It All Out 拓扑排序
- Django代码部署到CentOS服务器上